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掃描電子顯微鏡測試

通過二次電子檢測及背散電子檢測,可以獲得高分辨率、高襯度和高信噪比的圖像。

設備型號為ZEISS GeminiSEM 500,最大加速電壓30kV。15kV下分辨率為0.6nm

同時配有牛津Aztec Xmax 50 X射線能譜儀,可用于成份分析。

針對導電性差的基底,可用PECS預處理,型號為Gatan Model685。

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服務介紹:

通過二次電子檢測及背散電子檢測,可以獲得高分辨率、高襯度和高信噪比的圖像。

設備型號為ZEISS GeminiSEM 500,最大加速電壓30kV。15kV下分辨率為0.6nm

同時配有牛津Aztec Xmax 50 X射線能譜儀,可用于成份分析。

針對導電性差的基底,可用PECS預處理,型號為Gatan Model685。


服務內容:

圖片1.png

服務說明:

客戶提供:觀測基片。特殊材料(如鐵磁等)需說明。

實驗周期:客戶在工程師指導下自行觀測/委托觀測。

收費標準:SEM××元/小時;EDS能譜功能額外收費××元;不導電基片制備額外收費××元;特殊片另行協商。


成果展示:

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