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橢偏儀測試

通過橢圓偏振光,測量樣品表面薄膜參數,如膜厚,折射率等。

設備型號為SENresearch 4.0。光譜波段190nm-1700nm。


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服務介紹:

通過橢圓偏振光,測量樣品表面薄膜參數,如膜厚,折射率等。

設備型號為SENresearch 4.0。光譜波段190nm-1700nm。


服務內容:

1. 樣品表面薄膜測試


服務說明:

客戶提供:觀測基片。并提供薄膜參數大致范圍。

實驗周期:客戶在工程師指導下自行觀測/委托觀測。

收費標準:××元/小時;特殊片另行協商。


成果展示:

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