首頁 - 中心設備 - 表征測試

聚焦離子束 (FIB) ZEISS Crossbeam 540


聚焦離子束(FIB) ZEISS Crossbeam 540

聯系我們
產品信息
屬性參數
成果展示
商家介紹

通過X射線在晶體中的衍射效應,分析材料的衍射圖譜,獲得材料的組分、內部原子結構或形態信息。

QC3專注于化合物半導體工業質量控制所需的高分辨衍射分析。它適合所有普通的半導體材料特性研究,包括砷化鎵、磷化銦以及硅、氮化鎵等其它材料。


7-2.jpg

公司名稱:華慧芯科技(天津)有限公司


平臺簡介: 


    清華大學天津電子信息研究院高端光電子芯片創新中心,占地約800平方米,其中百級黃光區100平方米。中心擁有完整的光電子器件研發設備,支持III-V族半導體、硅基半導體、二維材料、柔性材料、金屬材料等光電子芯片的研發,并具有多個納米尺度的特色工藝模塊和先進表征模塊;配套的測試實驗室提供國際領先的芯片測試分析技術。


    中心在支持天津電子院項目孵化的同時,面向社會開放,提供納米尺度下光電子芯片的制備工藝的解決方案,以提升我國光電子芯片的研發水平和產業化進程。


地址:江蘇


服務保障:已審核 已通過企業認證


六合彩特码资料网